解析研究センター

電子線トモグラフィによるナノ構造の三次元観察と構造解析

高分子材料はその歴史は浅いものの、近年において異種高分子や無機充填物との複合化などのプロセスを用いたナノスケールの微細構造制御により、単体では発現しない物性や機能をもつ新規材料の開発が行われています。それらがもつナノスケールの微細構造(ナノ構造)は本質的に三次元であるため、新規材料がもつマクロ物性の発現機構を理解するためには、その三次元構造をナノスケールで定量的に解析することが必要不可欠です。本研究室では、ナノスケールで三次元構造観察が可能な電子線トモグラフィ(3D-TEM)により、二成分系ポリマーアロイが形成するナノ構造の三次元形態を明らかにすることに加えて、得られた三次元構造情報を定量的に評価する手法を開発しました。

ナノ構造の三次元観察評価の一例

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高分子が形成する相分離構造の三次元観察

シリカナノ粒子コンポジット膜の三次元構造観察
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