分析・計測・データ解析 保有装置

解析研究センター

X線コンピュータ断層撮影システム(X線CT)

X線コンピュータ断層撮影システム(X線CT)

最大40×30cmで最高空間分解能5μmによる3次元測定ができ、非破壊で材料や部品の内部構造が観察できる。

走査電子顕微鏡(FE-SEM)

走査電子顕微鏡(FE-SEM)

mm〜nmレベルまでの表面形態観察に適し、例えばナノ粒子や表面コート状態の観察に使用する。

透過電子顕微鏡(FE-TEM)

透過電子顕微鏡(FE-TEM)

0.1nmまでの形態・元素組成・構造分析に適し、例えば各種触媒や電極、ナノ金属の分析に使用する。

電子線マイクロアナライザ(FE-EPMA)

電子線マイクロアナライザ(FE-EPMA)

固体中の微小部の元素組成・元素分布(表面数μm以内、分析面0.1μm以上)に適し、例えば金属腐食状態の観察や微小異物の元素分析に使用する。

蛍光X線分析計(XRF)

蛍光X線分析計(XRF)

固体中の元素組成分析に適し、例えば触媒や異物の元素組成分析に使用する。

X線光電子分光分析計(XPS)

X線光電子分光分析計(XPS)

極表面(数nm)での元素組成と化学状態分析に適し、例えば各種触媒やカーボンの表面状態分析に使用する。

X線回折分析計(XRD、μ-XRD)

X線回折分析計(XRD、μ-XRD)

無機物の結晶構造による同定やポリマーの結晶性解析に適し、例えば触媒など各種無機材料の結晶構造分析や異物の同定に使用する。

クライオ断面イオンミリング装置 (クロスセクションポリッシャCP)

クライオ断面イオンミリング装置 (クロスセクションポリッシャCP)

アルゴンイオンによる精密断面出しを行う。ポリマー用として液体窒素冷気下によるクライオ機能も附属している。

集束イオンビーム加工装置(FIB)

集束イオンビーム加工装置(FIB)

Gaイオンによりミクロンサイズの微小部での面出しや切片の取出しが可能でSEM、EPMA、TEMなどの分析の前処理に利用する。

核磁気共鳴分析計(NMR)

核磁気共鳴分析計(NMR)

有機物の化合物構造分析に適し、例えばポリマーのユニット比やポリエチレンの分岐構造解析に使用する。

フーリエ変換赤外分光分析計(FT-IR)

フーリエ変換赤外分光分析計(FT-IR)

有機物の構造分析に適し(50μmまでの空間分解能でのマッピング付き)、例えば有機物の同定やポリマーの材質特定や劣化分析に使用する。

ラマン分光光度計(Raman)

ラマン分光光度計(Raman)

有機物・無機物・カーボンの構造分析に適し(1μmまでの空間分解能)、例えばカーボンの結晶構造や酸化チタンの構造分析、微小異物分析に使用する。

DARTイオン源

DARTイオン源

加熱ヘリウムによる直接イオン化により、高分子などの固体や液体試料から添加剤などを溶媒抽出することなく直接質量分析が可能となる。

飛行時間型質量分析装置(TOF-MS)

飛行時間型質量分析装置(TOF-MS)

飛行時間型検出器の質量分析により、高感度でかつ高精度の質量分析が可能で、質量数から構造解析も可能となり、微量な不純物や付着物などの構造決定に利用できる。

ガスクロマトグラフ分析計(GC)

ガスクロマトグラフ分析計(GC)

溶液・ガス中の成分定性・定量に適し(%〜ppmレベル)、例えば都市ガスなどの各種燃料組成分析や付臭剤定量に使用する。

ゲル浸透クロマトグラフ分析計(GPC)

ゲル浸透クロマトグラフ分析計(GPC)

有機物の分子量分析に適し、例えばポリマーの分子量分析や排水中の高分子の分子量分析に使用する。

高速液体クロマトグラフ分析計(HPLC)

高速液体クロマトグラフ分析計(HPLC)

溶液中の有機物成分の定性・定量分析に適し(%〜ppmレベル)、例えばポリマー中の添加剤成分分析や冷却水中のインヒビターの定性・定量分析に使用する。

イオンクロマトグラフ分析計(IC)

イオンクロマトグラフ分析計(IC)

溶液中の無機イオン成分分析に適し(100ppbあるいは10ppbレベルまで)、給湯水中の腐食成分や排水中のイオン成分定量に使用する。

誘導結合プラズマ発光分光分析計(ICP-AES)

誘導結合プラズマ発光分光分析計(ICP-AES)

溶液中の無機、金属成分をサブppmレベルで定量するのに適し、排水中の無機分定量や金属材料組成分析に使用する。

原子吸光分析計(AAS)

原子吸光分析計(AAS)

溶液中の重金属有害成分をサブppmレベルで定量するのに適し、例えば土壌中の重金属分析に使用する。

示差熱・熱重量同時測定計(TG/DTA)

示差熱・熱重量同時測定計(TG/DTA)

試料加熱時の熱重量変化の測定に適し(〜1300℃)、例えば有機物の熱分解開始温度や燃焼特性、ゴムの組成分析に使用する。

示差走査熱量分析計(DSC)

示差走査熱量分析計(DSC)

試料加熱時の微小熱変化測定に適し(吸熱、発熱:-100〜500℃)、例えばポリマーの熱物性(融解、ガラス転移、結晶化)測定や耐酸化性測定に使用する。

物性評価試験装置

金属材料、無機材料、樹脂材料等の強度、硬さなどの評価に使用する。

構造制御材料研究部

TG-DTA/MS

TG-DTA/MS

TG測定で発生するガスをオンラインで質量分析します。発生ガスの種類や量を温度変化に対してリアルタイムにモニターし、吸着水の揮発挙動や物質の熱分解挙動、表面修飾剤の量等の情報を得ることができます。

FT-IR/NIR

FT-IR/NIR

近赤外光の吸収スペクトルの測定は、OH基のピークを水のピークと分離して解析する際に有効です。中赤外光では、透過法、1回反射ATR法、拡散反射法の測定から、バルクや表面の結合情報を得ることができます。

NMR

NMR

JEOL GSX270 JEOL JNM-ECA400 溶液、固体での多核および二次元測定 低周波数核測定(溶液での73Ge・25Mg・47/49Ti等) DOSY:拡散係数測定による多成分系のスペクトル分離 ROSY:緩和時間測定による多成分系のスペクトル分離 広温度範囲の測定に対応(固体:-100℃〜100℃,溶液:-100℃〜180℃) 緩和時間測定、固体表面の結合状態解析、縮合や加水分解等の反応進行状況追跡、電池材料のLi状態解析など

ダイナミック超微小硬度計

ダイナミック超微小硬度計

微小な圧子を使い、負荷と押しこみ深さの関係をリアルタイムに計測し表面物性を評価できます。 金属材料、薄膜,表面処理層,微小電子部品,プラスチック、ゴム、セラミックスなど、あらゆる材料の表面物性評価が可能です。 ISO14577-1(計装化押し込み硬さ試験)におけるマルテンス硬さ、押し込み弾性率、仕事量、クリープ評価に対応しています。

粒度分布/ゼータ電位計

粒度分布/ゼータ電位計

ナノ粒子(0.6nm〜)分散液の粒径分布を動的光散乱法により測定します。また、同一分散液でゼータ電位測定を行うことも可能で、粒子の分散安定性の評価に活用できます。

比表面積/細孔分布測定装置(Ar/CO2/N2ガス対応)

比表面積/細孔分布測定装置(Ar/CO<sub>2</sub>/N2ガス対応)

粉体のBET比表面積、マイクロポア(0.4nm)〜メソポア領域の細孔分布をガス吸着法により測定します。N2、Ar、CO2ガスの他、水蒸気吸着等温線の測定も可能です。

フェロ&ピコシステム研究部

パルスBHトレーサ

パルスBHトレーサ

室温から200℃までの磁石特性を評価する最大8Teslaのパルス高磁場BHカーブトレーサです。公平中立の場で国際標準規格IEC、JIS規格に準拠した測定方法にて委託試験業務を実施しております。

高感度VSM(振動試料磁力計)

高感度VSM(振動試料磁力計)

試料を約60Hzの交流で振動させ、周囲に配置したJコイルで誘起する起電力を測定します。  起電力と磁化との関係式を基に、磁気モーメントを検出します。磁化の感度が非常に高く、常磁性、反磁性、液体、紛体、薄膜など微小な試料測定が可能です。低温(液体窒素)〜900℃までの測定が可能です。

テスラメータ(ガウスメータ)

トランスバース型の微小プローブにより表面磁束密度を測定します。

フラックス測定装置

着磁された磁石の磁化状態を総磁束量という簡便な方法で測定します。 測定の際には、磁石のサイズに合うサーチコイルが必要となります。

原子間力顕微鏡(AFM) MFMモード

原子間力顕微鏡(AFM) MFMモード

先端に磁性コートしたプローブをサンプルに近づけることにより、磁気力と表面形状を検出することができます。 着磁した試料、脱磁した試料の磁区観察ができます。  試料に磁場を印加して観察することも可能です。

電界放射形走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDX)

電界放射形走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDX)

電子銃に電界放射形電子銃を用いたSEMで電子ビームを7細く収束することが可能なため、非常に高分解での観察が可能となります。試料にもよりますが、最大20万倍くらいまで可能です。 併設のEDSで同時に元素分析も可能です。

電子顕微鏡 SEM/EDX

電子顕微鏡 SEM/EDX

熱電子銃を用いた汎用型のSEMです。 低真空モードもついており、高真空にもっていくことにより破損するおそれのある試料などの観察に向いています。 併設のEDSは大面積の検出器がついており、非常に感度良く元素を検出できます。

超深度カラー3D形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡)

超深度カラー3D形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡)

短波長で直進性のよいレーザーを試料に照射して反射する像を得ます。 結像位置にピンホールがあるため、散乱光の少ないコントラストの高い画像が得られます。高さごとの反射画像を積算するため、最終的に3D画像として画像を取得することが可能です。

デジタルマイクロスコープ

デジタルマイクロスコープ

通常の顕微鏡の接眼レンズの代わりに、カメラを搭載しモニタに拡大像を映し出します。高解像度、広視野の画像作製ができます。粒子解析などもできます。

透過型電子顕微鏡(TEM)

透過型電子顕微鏡(TEM)

厚さ100nm以下の薄く切った試料に電子線を透過させて、試料を透過、散乱した電子線情報により、試料情報を得ます。 微細組織観察に優れます。

ラマン顕微鏡

ラマン顕微鏡

固体・液体の試料から生じたラマン散乱光をスペクトルに分光して分析することができます。

ダイナミック超微小硬度計

ダイナミック超微小硬度計

微小な圧子を使い、負荷と押しこみ深さの関係をリアルタイムに計測し表面物性を評価できます。 金属材料、薄膜,表面処理層,微小電子部品,プラスチック、ゴム、セラミックスなど、あらゆる材料の表面物性評価が可能です。 ISO14577-1(計装化押し込み硬さ試験)におけるマルテンス硬さ、押し込み弾性率、仕事量、クリープ評価に対応しています。

接触角計

接触角計

物体に液滴を落着させ、接触角から濡れ性や親水性、疎水性などを評価することができます。表面改質、塗装、コーティング膜の評価などに使用されます。

ガスクロマトグラフ(GC)

ガスクロマトグラフ(GC)

溶液・ガス中の成分の定性・定量をppmレベルで行うことができます.

ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)

ガスクロマトグラフ質量分析計(GC/MS)

各成分を分離し、質量分析計で定性・定量を行います。気化しやすい化合物の同定・定量を高感度で行える分析手法です

新機能性材料研究部

自動滴定装置

自動滴定装置

電気化学センサを用いた終点検出と電動ビュレットを用いて測定を行うため、高精度な測定が可能です。適応した電極と滴定液を用いることで、中和滴定、酸化還元滴定、電導度滴定などさまざまな測定が可能になります。

カールフィッシャー水分計

カールフィッシャー水分計

液体の含水量をその場で、迅速に測定する分析装置です。アルコール系、エーテル系、アミド系などに加えて、ケトン系の液体も測定可能です。電量滴定法ですので微量(10μg〜)な水分を精度よく測定できます。

マイクロトラックUPA

マイクロトラックUPA

・動的光散乱方式粒度分布測定機・測定可能範囲:3nm〜6μm・測定可能濃度:数ppm〜数%・測定可能溶媒:制限なし

フローテスター

フローテスター

室温+20℃〜400℃まで測定可能な定荷重押出し形細管式レオメータです。一定温度での測定、昇温過程での測定の二種の測定モードが選択でき、樹脂の流動特性の評価が可能です。((株)島津製作所製 CF-500D)

動的粘弾性測定装置

動的粘弾性測定装置

高分子材料などの粘弾性を評価する装置です。湿度制御や浸漬状態での測定も可能で、材料物性を幅広い環境下で評価することもできます。フィルムやシートなど様々な形状のサンプルにも対応できます。

示差走査熱量計(DSC)「Discovery DSC」

示差走査熱量計(DSC)「Discovery DSC」

-80℃〜550℃の温度範囲にて一定の熱を与えながら、試料の状態変化に伴う吸熱、発熱反応の測定が可能です。DSCでは、材料が溶融する際の融解現象に限らず、ガラス転移温度のような相転移や結晶化挙動、比熱などを把握することが可能です。※)温度変調DSCとしての利用も可能

周期加熱型熱拡散率評価装置「サーモウェーブアナライザTA3」

周期加熱型熱拡散率評価装置「サーモウェーブアナライザTA3」

周期加熱法による熱拡散率の測定を行う装置であり、薄膜およびフィルムの熱拡散率測定を得意とします。また、サンプルの面内および厚み方向の3軸方向の熱拡散率の測定や、厚み方向に関しては、マッピング測定も可能である他、室温〜300℃までの温度範囲での熱拡散率の測定を可能とします。※)有機フィルムからダイヤモンドまで非常に広範な材料の測定が可能

示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)

示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)

本装置は物質への熱の出入りを測定する「示差熱分析(DTA)」と重量変化を測る「重量変化(TG)」を同時に分析できる熱分析装置です。測定温度範囲は室温から1100℃、TG範囲は±400mgまで可能です。また、高感度であるためμgまでの重量変化(TG)分析にも対応できます。高分子、無機、医薬品材料の熱分解、酸化、還元、耐熱、結晶化、融解、水分量、灰分の定量、反応追跡に用いる事ができます。(日立ハイテクサイエンス社製STA7200)

AC/DC耐電圧試験機

AC/DC耐電圧試験機

AC/DC10kVまで印加可能な電子機器・電子部品の耐電圧試験機です。印加電圧の設定や手動による昇圧が可能であり、電圧印加時の漏れ電流値の測定もできるため、各種規格に合わせた評価ができます。 また、必要に応じて空気中や油中での評価も可能です。(菊水電子工業TOS5101)

超絶縁抵抗計

超絶縁抵抗計

DC10V~1000V印加時の絶縁抵抗の測定ができます。 2×1013Ω または 2.0E+13Ωまでの測定が可能であり、 通常のテスターでは評価できない 電子部品や絶縁物の絶縁抵抗が測定できます。(日置電機SM-8220)